-
超高純度フルオロポリマー・ダイヤフラム・バルブ DRPシリーズ 技術情報 概要
この情報は、DRPシリーズ・バルブに対し、第三者機関とスウェージロックが行ったテストの要約です。DRPバルブは主に、製品の純度と信頼性が非常に重要である半導体業界において、重要な液体管理を行うために使用することを主たる目的として設計されています。この情報に記載されている報告データとテスト・プロトコルは、SEMI F57-0301 に基づいています。この情報は、以下の項目について記述しています。■ パーティクル発生／■ 表面粗さ／■ イオン性コンタミネーション／■ 金属性コンタミネーション／■ 総有機性炭素（TOC）量／■ 超純水、HCl、スラリーを用いた信頼性テスト
-
エクセス・フロー・バルブ XSシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelok一般産業用エクセス・フロー・バルブ XSシリーズ用の以下のスプリングの選定および注文方法について記載しています。■ 標準スプリング／■ 中流量用スプリング（オプション）／■ 低流量用スプリング（オプション）
-
ベローズ・シール・バルブ BNシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelokベローズ・シール・バルブ BNシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ／■ パーティクル・カウント／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ 残留イオン濃度／■ 実験室でのサイクル・テスト
-
ベローズ・シール・バルブ HBシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelokベローズ・シール・バルブ HBシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ／■ パーティクル・カウント／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ 残留イオン濃度／■ 実験室でのサイクル・テスト
-
ダイヤフラム・バルブ DLシリーズ DSシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelokダイヤフラム・バルブ DL／DSシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ／■ パーティクル・カウント／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ 残留イオン濃度
-
ダイヤフラム・バルブ DFシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelokダイヤフラム・バルブ DFシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ／■ パーティクル・カウント／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ 残留イオン濃度／■ 実験室でのサイクル・テスト
-
ダイヤフラム・バルブ DPシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelokダイヤフラム・バルブ DPシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ／■ インボード・ヘリウム・リーク・テスト／（真空法）／■ パーティクル・カウント／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ 残留イオン濃度／■ 実験室でのサイクル・テスト
-
超高純度用ガス・フィルター SCFシリーズ 技術情報
この技術情報は、Swagelok SCFシリーズ・フィルターに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ／■ メンブラロックス・フィルター構造／■ パーティクル除去率／■ パーティクル発生／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ 酸素分析
-
圧力トランスデューサー PTUシリーズ 技術情報 概要
この技術情報は、Swagelok圧力トランスデューサーPTUシリーズに関するデータを提供するものです。記載事項：■ 精度／■ パーティクル発生／■ 温度係数／■ 材料の仕様／■ 長期安定性／■ 製造および表面仕上げ／■ 残留イオン濃度／■ 電解研磨および不動態化処理／■ ヘリウム・リーク・テスト／■ クリーニングおよび乾燥／■ 炭化水素分析／■ 組み立ておよびテスト／■ 水分分析／■ 参考文献／■ 酸素分析