"{0}"の検索結果

この技術情報は、Swagelok SCFシリーズ・フィルターに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ／■ メンブラロックス・フィルター構造／■ パーティクル除去率／■ パーティクル発生／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ 酸素分析

• FR
• JA

この技術情報は、Swagelok圧力トランスデューサーPTUシリーズに関するデータを提供するものです。記載事項：■ 精度／■ パーティクル発生／■ 温度係数／■ 材料の仕様／■ 長期安定性／■ 製造および表面仕上げ／■ 残留イオン濃度／■ 電解研磨および不動態化処理／■ ヘリウム・リーク・テスト／■ クリーニングおよび乾燥／■ 炭化水素分析／■ 組み立ておよびテスト／■ 水分分析／■ 参考文献／■ 酸素分析

この技術情報は、Swagelok手動式レギュレーター HFシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ／■ パーティクル・カウント／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ 残留イオン濃度／■ 実験室でのサイクル・テスト

この技術情報は、ノーマル・クローズ型Swagelok ALD7超高純度用ダイヤフラム・バルブに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ バルブ流量一貫性／■ 真空下での流れ／■ 流量と温度／■ バルブ作動の応答性に関して／■ 実験室でのサイクル・テスト／■ シート部のヘリウム・リーク・テスト／■ パーティクル・カウント／■ 水分分析／■ 残留イオン濃度／■ 炭化水素分析

• JA
• EN

この技術情報は、Swagelokダイヤフラム・バルブ（1.125 インチ集積サイズ） DPシリーズに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ 表面仕上げ／■ インボード・ヘリウム・リーク・テスト（真空法）／■ パーティクル ・ カウント／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ 残留イオン濃度／■ 実験室でのサイクル・テスト

• JA
• EN

この技術情報は、ノーマル・クローズ型Swagelok ALD6 ダイヤフラム・バルブに関するデータです。以下の事項について記載しています。■ シート部のヘリウム・リーク・テスト／■ バルブ流量一貫性分析／■ 実験室でのサイクル・テスト／■ アクチュエーターの断熱およびバルブの熱反応性／■ パーティクル・カウント／■ 残留イオン濃度／■ 表面仕上げ／■ 水分分析／■ 炭化水素分析／■ バルブ作動の応答性に関して

• JA
• EN

酸素を安全に取り扱うために取り組まなければならない特有の問題についての概要を記載しています。

• ZH
• KO
• ES
• FR
• RU
• JA
• DE
• EN

この情報は、DRPシリーズ・バルブに対し、第三者機関とスウェージロックが行ったテストの要約です。DRPバルブは主に、製品の純度と信頼性が非常に重要である半導体業界において、重要な液体管理を行うために使用することを主たる目的として設計されています。この情報に記載されている報告データとテスト・プロトコルは、SEMI F57-0301 に基づいています。この情報は、以下の項目について記述しています。■ パーティクル発生／■ 表面粗さ／■ イオン性コンタミネーション／■ 金属性コンタミネーション／■ 総有機性炭素（TOC）量／■ 超純水、HCl、スラリーを用いた信頼性テスト

• ZH
• JA
• DE
• EN

本技術資料では、減圧レギュレーターの流量曲線の読み取り方 （概要）について記載しています。また、複雑な現象［ドループ（流量増加に伴う二次側圧力の降下）、シート・ロード・ドロップまたはロックアップ、チョーク流量、ヒステリシス（回帰性）、供給圧力影響（SPE、別名：依存性）］などについて紹介しています。

• JA
• EN

Swagelok 仕様書SC-10は、Swagelok製品の標準品に対するクリーニング、潤滑剤、アセンブリー、パッケージングに関する要件を規定するもので、これらの要件を満たすための方法について詳述しています。このSC-10は基本的な産業用手順について記載しています。システム設計者およびユーザーは、この仕様書を検討し、ユーザーのクリーニング要件に適合するかどうかを決定してください。

• KO
• JA
• DE
• EN